該NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，準(zhǔn)確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行分析。

• 位置和光束大小達到亞微米級精度
• 易于使用的集成軟件包
• 一個軟件包中包含單個和多個光束分析標(biāo)準(zhǔn)
• 可軟件控制的掃描速度（更新率）
• 采用峰值-連接算法用于脈沖光束測量
• USB2或PCI接口和數(shù)字探頭控制
• 12位數(shù)字化信號
• 采用ActiveX自動化與其他軟件包通信
• 可選硅和鍺掃描頭的功率計
• 可提供硅、鍺和熱釋電探測器

產(chǎn)地：美國

傳感器類型：Silicon

光譜范圍：190-1100 nm

狹縫尺寸：1.8 µm

孔徑尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 µm - 2.3 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率范圍：10 nW - 10 W

通信：USB 2.0

軟件：NanoScan Standard

兼容的光源：CW, Pulsed >25 kHz